Поиcк по сайту by Google


Рейтинг@Mail.ru
Rambler's Top100
Электронные книги » Физика » Основы анализа поверхности и тонких пленок - Фелдман Л., Майер Д.

Основы анализа поверхности и тонких пленок - Фелдман Л., Майер Д.

 
Название: Основы анализа поверхности и тонких пленок
Автор: Фелдман Л., Майер Д.
Категория: Физика
Тип: Книга
Дата: 16.11.2008 11:25:16
Скачано: 1015
Оценка:
Описание: Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры н состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне. Для специалистов, интересующихся проблемами анализа поверхности и тон-
Файл: 3.36 МБ
Скачать